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霍爾電路高低溫在線測(cè)試設(shè)備研究
關(guān)鍵詞：霍爾集成電路 測(cè)試設(shè)備 高精度
摘要：根據(jù)霍爾集成電路的檢測(cè)需要,提出了研發(fā)霍爾集成電路在線高低溫測(cè)試設(shè)備的必要性。通過霍爾集成電路測(cè)試需求分析,給出了測(cè)試全部參數(shù)的解決方案。其中包括測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)以及測(cè)試程序流程。經(jīng)測(cè)試驗(yàn)證,研發(fā)的測(cè)試設(shè)備能完成霍爾集成電路在高低溫環(huán)境下各項(xiàng)性能參數(shù)的實(shí)時(shí)測(cè)試,使得高低溫下的測(cè)試結(jié)果更為準(zhǔn)確,滿足用戶的使用需求。
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