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多GNSS電離層TEC提取精度評估新方法
朱永興; 周巖; 李鼎; 賈小林 信息工程大學(xué); 河南鄭州450001; 地理信息工程國家重點實驗室; 陜西西安710054; 西安測繪研究所; 陜西西安710054; 長安大學(xué)地質(zhì)工程與測繪學(xué)院; 陜西西安710054
關(guān)鍵詞：多衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng) 電離層tec 精度評估 臨近穿刺點 相鄰天跳變
摘要：分析研究了常規(guī)電離層總電子含量TEC(Total Electric Content)提取的精度評估問題。提出了基于臨近穿刺點偏差和相鄰天鄰近歷元跳變分析的綜合電離層TEC提取精度評估方法;并采用MGEX和iGMAS部分測站實測數(shù)據(jù),驗證了該方法的有效性。與傳統(tǒng)方法相比,采用該方法給出的評估結(jié)果更加細(xì)化,可用于小區(qū)域電離層的活動程度分析。
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