關(guān)鍵詞:平面擬合 點(diǎn)云數(shù)據(jù) 穩(wěn)健加權(quán)總體最小二乘 粗差探測 方差膨脹
摘要:為了提高平面擬合精度,本文采用總體最小二乘求解平面擬合參數(shù)。同時考慮到點(diǎn)云數(shù)據(jù)中含有的粗差點(diǎn)可能影響點(diǎn)云平面擬合的精度,提出了方差膨脹的穩(wěn)健加權(quán)總體最小二乘。本文通過選取IGG權(quán)函數(shù)將點(diǎn)云數(shù)據(jù)分為3段,并引入中位數(shù)對IGG權(quán)函數(shù)進(jìn)行改進(jìn),可以更準(zhǔn)確地探測粗差??紤]到點(diǎn)云數(shù)據(jù)中x、y、z這3個方向的誤差并不是等精度,計算了點(diǎn)位的協(xié)方差矩陣,使得x、y、z這3個方向的誤差分配更加合理。通過實(shí)例表明,本文的方法不僅可以消除粗差點(diǎn)的影響,還能減弱可疑點(diǎn)的影響,得到更為準(zhǔn)確的平面擬合參數(shù),提高了平面擬合精度。
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