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大型復(fù)雜電子系統(tǒng)的緊縮可靠性試驗(yàn)解決方案
關(guān)鍵詞：緊縮系統(tǒng) 可靠性試驗(yàn)方案 復(fù)雜電子系統(tǒng)
摘要：討論了一類(lèi)組成復(fù)雜、組件之間獨(dú)立工作、組件的失效率不隨系統(tǒng)規(guī)模變化的大型系統(tǒng)的緊縮可靠性試驗(yàn)解決方案,通過(guò)嚴(yán)格的數(shù)學(xué)推導(dǎo),證明了該緊縮系統(tǒng)試驗(yàn)方案與全系統(tǒng)開(kāi)展試驗(yàn)是完全等效的。該方案彌補(bǔ)了基于可靠性分配的可靠性試驗(yàn)方案的不足,給出了緊縮系統(tǒng)的緊縮原則,實(shí)現(xiàn)了通過(guò)緊縮系統(tǒng)試驗(yàn)直接評(píng)價(jià)全系統(tǒng)可靠性水平的目標(biāo),具有一定的工程應(yīng)用價(jià)值。
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)雜志要求:
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