集成電路測試機的挑戰(zhàn)與趨勢
迎九 《電子產(chǎn)品世界》; 北京100036
關(guān)鍵詞：集成電路 測試 微調(diào) trim
摘要：介紹了集成電路測試機(ATE)面臨的挑戰(zhàn)與解決方案。
電子產(chǎn)品世界雜志要求:
{1}摘要應(yīng)闡述文章的目的、方法、結(jié)果和結(jié)論等，篇幅一般為200-300字。關(guān)鍵詞一般選取3-5個即可，以反映論文的本質(zhì)、特征為出發(fā)點。
{2}學(xué)術(shù)內(nèi)容：應(yīng)具有真實性、科學(xué)性、導(dǎo)向性、實用性、創(chuàng)新性。
{3}來稿應(yīng)反映法學(xué)研究領(lǐng)域的最新發(fā)展與水平，論點明確、論據(jù)充分、數(shù)據(jù)可靠、條理清晰、題文相符、文字簡明，具有一定的科學(xué)性、實用性、可讀性。
{4}參考文獻(xiàn)必須是作者親自閱讀過的發(fā)表在正式出版物的文獻(xiàn)，文章應(yīng)附參考文獻(xiàn)，建議為5-10條。
{5}摘要只需簡明、準(zhǔn)確地概述論文內(nèi)容即可，不要增加注釋和評價性文字，以150-200字為宜。
注：因版權(quán)方要求，不能公開全文，如需全文，請咨詢雜志社
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