通用微系統(tǒng)組件測試與知識系統(tǒng)設(shè)計實現(xiàn)
關(guān)鍵詞：微系統(tǒng)組件 自動測試 數(shù)據(jù)庫 知識庫
摘要：介紹了為實現(xiàn)小批量多品種微系統(tǒng)組件的通用測試,并在測試過程中提供相關(guān)知識幫助調(diào)試開發(fā)的通用測試與知識系統(tǒng)。通過對微系統(tǒng)組件測試指標(biāo)和測試方法進(jìn)行共性分析,將不同測試指標(biāo)的儀器控制和測試方法封裝成獨立的測試模塊。運用抽象類、數(shù)據(jù)庫和條碼掃描等技術(shù)使儀器具有可換性,測試項目可配置,測試儀器可自動設(shè)置,測試結(jié)果可自動判定,測試工序有幫助,實現(xiàn)微系統(tǒng)組件的通用測試。通過知識系統(tǒng)的應(yīng)用減少了自動測試系統(tǒng)的重復(fù)開發(fā),降低了測試人員的要求,取得了良好的生產(chǎn)效益。
電子工藝技術(shù)雜志要求:
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