關(guān)鍵詞:預(yù)加重 lvds電路 ate測試
摘要:在高速LVDS集成電路的測試中,由于長距離、高速率下會帶來能量損失,這種傳輸損耗會使信號的高頻分量比低頻分量損耗更大,而導(dǎo)致驅(qū)動能力不足等問題,故在集成電路設(shè)計中增加預(yù)加重,來補償傳輸損耗。該文結(jié)合具有預(yù)加重功能的MAX3845電路,對可置位預(yù)加重管腳設(shè)置三種不同狀態(tài),通過ATE動態(tài)編程,結(jié)合預(yù)加重計算公式,計算預(yù)加重dB指數(shù),驗證電路預(yù)加重模塊設(shè)計質(zhì)量,進(jìn)一步總結(jié)測試方法和結(jié)果。
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