淺談DC/DC功率器件在ATE測試過程中的故障分析
魏軍; 仇錢進; 張磊 中國電子科技集團公司第五十八研究所; 江蘇無錫214035
關(guān)鍵詞：ate測試 產(chǎn)品失效 故障分析
摘要：由于數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)的飛速發(fā)展和分布式供電系統(tǒng)的不斷推廣,DC-DC模塊電源的增幅已經(jīng)超出了一次電源,而且其功率密度也越來越大,對封測得要求也越來越高。大功率DC/DC集成電路或者功率電源控制芯片在研發(fā)測試(特別是ATE測試)過程中經(jīng)常會出現(xiàn)各種各樣的產(chǎn)品失效,有些是產(chǎn)品故障,有些卻是誤判。因此,我們必須學(xué)會對失效產(chǎn)品進行故障分析,以甄別失效的真假。
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