EAST上由垂直不穩(wěn)定性引發(fā)破裂的分析與預(yù)測
關(guān)鍵詞：破裂 垂直不穩(wěn)定性 物理事件 破裂預(yù)測
摘要：從EAST 裝置2016 年的放電實(shí)驗(yàn)中,選取了119 次等離子體破裂放電數(shù)據(jù),分析誘發(fā)等離子體破裂的原因,發(fā)現(xiàn)約60%的破裂是由垂直不穩(wěn)定性直接引起的,其破裂后將會產(chǎn)生更大的暈電流,從而產(chǎn)生更大的電磁應(yīng)力損壞裝置。對由垂直不穩(wěn)定性引起的破裂(簡稱為VID)(72 次放電)進(jìn)行了研究,建立了分別基于單變量(垂直位移)和兩維變量(垂直位移、垂直位移增長率)的預(yù)測模型用于對VID 破裂的預(yù)測。離線測試表明,基于兩維變量的預(yù)測模型可以在破裂發(fā)生前20ms 給出破裂預(yù)警信號,預(yù)測成功率達(dá)93%。
核聚變與等離子體物理雜志要求:
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