鋼的等效射線衰減系數(shù)的實驗分析
關(guān)鍵詞：射線衰減系數(shù) x射線 面陣列探測器 圖像質(zhì)量
摘要：利用X射線數(shù)字成像技術(shù)檢測薄壁鋼件時,需根據(jù)鋼的等效射線衰減系數(shù)進行檢測工藝參數(shù)優(yōu)化。然而,多色、寬束條件下的等效射線衰減系數(shù)難于獲得。為此,通過實驗方法,對鋼的等效射線衰減系數(shù)進行有效測量。首先,對等效射線衰減系數(shù)的測量方法及影響要素進行分析。然后采用面陣列射線探測器對0.05 mm厚的鋼箔測量射線強度的變化量,得到了30~150 kVp射線管電壓下的鋼的等效射線衰減系數(shù)。實驗結(jié)果表明:相較于單能、窄束射線條件下得到的衰減系數(shù),實驗得到的等效射線衰減系數(shù)明顯偏大。假定射線探測器為理想探測器,結(jié)合不同管電壓的射線能譜,經(jīng)計算得到的等效射線衰減系數(shù)與實驗結(jié)果趨于符合;借助于圖像質(zhì)量指標分析得到的等效射線衰減系數(shù)值,則與實驗測量值完好符合。因此在射線成像檢測實踐中,有必要對等效射線衰減系數(shù)進行實際測量:此系數(shù)與通常單能、窄束射線條件下得到的衰減系數(shù)明顯不同,它與圖像質(zhì)量指標存在直接的關(guān)聯(lián)。
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