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鋼的等效射線衰減系數(shù)的實(shí)驗(yàn)分析
關(guān)鍵詞：射線衰減系數(shù) x射線 面陣列探測(cè)器 圖像質(zhì)量
摘要：利用X射線數(shù)字成像技術(shù)檢測(cè)薄壁鋼件時(shí),需根據(jù)鋼的等效射線衰減系數(shù)進(jìn)行檢測(cè)工藝參數(shù)優(yōu)化。然而,多色、寬束條件下的等效射線衰減系數(shù)難于獲得。為此,通過(guò)實(shí)驗(yàn)方法,對(duì)鋼的等效射線衰減系數(shù)進(jìn)行有效測(cè)量。首先,對(duì)等效射線衰減系數(shù)的測(cè)量方法及影響要素進(jìn)行分析。然后采用面陣列射線探測(cè)器對(duì)0.05 mm厚的鋼箔測(cè)量射線強(qiáng)度的變化量,得到了30~150 kVp射線管電壓下的鋼的等效射線衰減系數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:相較于單能、窄束射線條件下得到的衰減系數(shù),實(shí)驗(yàn)得到的等效射線衰減系數(shù)明顯偏大。假定射線探測(cè)器為理想探測(cè)器,結(jié)合不同管電壓的射線能譜,經(jīng)計(jì)算得到的等效射線衰減系數(shù)與實(shí)驗(yàn)結(jié)果趨于符合;借助于圖像質(zhì)量指標(biāo)分析得到的等效射線衰減系數(shù)值,則與實(shí)驗(yàn)測(cè)量值完好符合。因此在射線成像檢測(cè)實(shí)踐中,有必要對(duì)等效射線衰減系數(shù)進(jìn)行實(shí)際測(cè)量:此系數(shù)與通常單能、窄束射線條件下得到的衰減系數(shù)明顯不同,它與圖像質(zhì)量指標(biāo)存在直接的關(guān)聯(lián)。
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