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《失效分析應(yīng)用技術(shù)》新書介紹
《理化檢驗-物理分冊》編輯部 不詳
關(guān)鍵詞：失效分析
摘要：由上海材料研究所教授級高級工程師王榮編著的《失效分析應(yīng)用技術(shù)》一書,已于2019年4月由機械工業(yè)出版社出版。該書全面系統(tǒng)地介紹了失效分析中常用的分析技術(shù)和方法,內(nèi)容包括失效分析概述、現(xiàn)場勘查技術(shù)、宏觀分析技術(shù)、斷口分析技術(shù)、金相分析技術(shù)、定量分析技術(shù)、X射線分析技術(shù)、電子光學(xué)分析技術(shù)、痕跡分析技術(shù)、裂紋分析技術(shù)、失效診斷技術(shù)、失效預(yù)防與安全評估、失效分析在司法鑒定中的應(yīng)用、失效分析報告的撰寫等。該書理論與實踐緊密結(jié)合,每個章節(jié)都對所述及的知識點進行了系統(tǒng)的歸納和總結(jié).
理化檢驗·化學(xué)分冊雜志要求:
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