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      柵介質(zhì)材料及尺寸對(duì)薄膜晶體管性能影響研究

      裴智慧; 秦國(guó)軒 天津大學(xué)微電子學(xué)院; 天津300072; 天津市成像與感知微電子技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室; 天津300072

      關(guān)鍵詞:薄膜晶體管 高介電常數(shù) 柵介質(zhì)材料 柵介質(zhì)尺寸 

      摘要:系統(tǒng)地對(duì)基于高介電常數(shù)材料HfO2和傳統(tǒng)的介質(zhì)材料SiO2這兩種不同柵介質(zhì)層材料的硅薄膜晶體管進(jìn)行建模并對(duì)不同尺寸和溫度條件下的薄膜晶體管的工作特性進(jìn)行了研究.獲得了不同溝道長(zhǎng)度和溝道寬度,不同柵介質(zhì)層厚度和不同溫度條件下的薄膜晶體管的工作特性曲線.通過對(duì)比發(fā)現(xiàn),薄膜晶體管的飽和電流與溝道長(zhǎng)度和柵介質(zhì)層厚度成反比,與溝道寬度成正比,與理論計(jì)算一致.隨著溫度的升高,薄膜晶體管的載流子遷移率和閾值電壓都在逐漸減小,因而飽和電流值逐漸減小;在相同柵介質(zhì)層尺寸和溫度條件下,基于HfO2的薄膜晶體管相對(duì)于基于SiO2的薄膜晶體管具有更高的電流開關(guān)比,更低的閾值電壓和更小的泄漏電流.因此,基于高介電常數(shù)柵介質(zhì)材料的薄膜晶體管相對(duì)于基于SiO2的薄膜晶體管具有更好的性能.

      南京大學(xué)學(xué)報(bào)·自然科學(xué)雜志要求:

      {1}基金項(xiàng)目的成果或論文,請(qǐng)?jiān)谑醉?yè)注明基金項(xiàng)目類別、課題項(xiàng)目名稱及編號(hào)。

      {2}稿件要求資料真實(shí)可靠,內(nèi)容充實(shí),論點(diǎn)明確,推論嚴(yán)謹(jǐn),設(shè)計(jì)合理,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,結(jié)構(gòu)嚴(yán)密,層次分明,文通句順,字跡端正。

      {3}題名:恰當(dāng)、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)明、清楚的反映論文全部重要信息,盡可能將表達(dá)核心內(nèi)容的主題詞放在題名開頭,保證檢索的敏感性和特異性。慎用縮略語(yǔ)、特殊符號(hào)、疾病例數(shù)等。一般不超過20個(gè)漢字。

      {4}參考文獻(xiàn)緊接正文,重復(fù)文獻(xiàn)請(qǐng)以第一次出現(xiàn)的次序標(biāo)注。

      {5}摘要須簡(jiǎn)潔客觀地反映文章主要內(nèi)容及觀點(diǎn),字?jǐn)?shù)在300字以內(nèi)。關(guān)鍵詞是反映文章主要內(nèi)容及觀點(diǎn)的詞或詞組,數(shù)量為3~8個(gè),多個(gè)關(guān)鍵詞之間用分號(hào)分隔。

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