原子力顯微鏡在膜污染及清洗研究中的應(yīng)用
唐春燕; 任文杰; 蔣芳婷; 秦吉; 胡昊楠; 馬志敏; 王瑩 四川農(nóng)業(yè)大學(xué)水利水電學(xué)院; 四川雅安625014
關(guān)鍵詞：原子力顯微鏡 膜技術(shù) 膜污染 膜清洗
摘要：介紹了原子力顯微鏡(AFM)的基本原理、工作模式,敘述了AFM在無機、有機及生物膜污染和不同清洗環(huán)境下的機理研究中的應(yīng)用。AFM因其具有高分辨率成像及工作環(huán)境多樣等優(yōu)點,在膜科學(xué)領(lǐng)域已經(jīng)得到廣泛應(yīng)用。AFM與其他分析技術(shù)相結(jié)合,可深層闡釋膜污染及清洗機理,從而實現(xiàn)優(yōu)化膜清洗方案,提高膜清洗效率。在未來的研究中,AFM的強大分析測量功能,將使其在開發(fā)改變膜表面特性的膜材料,尤其是提高抗污性的新膜材料領(lǐng)域發(fā)揮巨大作用,從而有力地推動膜科學(xué)迅速發(fā)展。
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