關(guān)鍵詞:太赫茲 全息成像 太陽電池
摘要:晶體硅太陽電池具有成本低廉、工藝簡單等優(yōu)點(diǎn),但在生產(chǎn)過程中難免會出現(xiàn)斷柵、破裂等問題,因此對太陽電池片的檢測至關(guān)重要。太赫茲波作為一種具有光子學(xué)及電子學(xué)特征的電磁波在無損檢測方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢。通過采用太赫茲量子級聯(lián)激光器數(shù)字全息成像系統(tǒng),對模擬設(shè)計的太陽電池金屬柵線、破裂硅片以及不同電阻率的襯底進(jìn)行測試。結(jié)果表明,太赫茲全息成像技術(shù)在太陽電池檢測領(lǐng)域具有較高的應(yīng)用價值。
太赫茲科學(xué)與電子信息學(xué)報雜志要求:
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