單粒子多瞬態(tài)誘導的組合電路軟錯誤敏感性評估
鄂長江; 李少甫; 齊藝軻 西南科技大學信息工程學院; 四川綿陽621010
關(guān)鍵詞：fpga 組合電路 單粒子多瞬態(tài) 軟錯誤
摘要：為了評估數(shù)字電路的軟錯誤敏感性,研究了一種適于FPGA的單粒子多瞬態(tài)(SEMT)誘導的組合電路軟錯誤評估方法.考慮脈沖傳輸過程中受到的電氣屏蔽的影響和輻射粒子入射的隨機性,控制不同脈寬的SEMT脈沖對所有SEMT故障位置進行故障注入,統(tǒng)計錯誤結(jié)果.實驗結(jié)果表明,該方法能對單粒子兩個及以上瞬態(tài)誘導的組合電路軟錯誤敏感性進行分析,得到各故障位置敏感度信息,供電路設計前端參考改進.
微電子學與計算機雜志要求:
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