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聲波測井存儲模塊的快速檢測系統(tǒng)和補(bǔ)償方法
關(guān)鍵詞：聲波測井 錯(cuò)誤校驗(yàn)糾錯(cuò) 存儲模塊 檢測系統(tǒng)
摘要：篩選高溫下穩(wěn)定的存儲器并設(shè)計(jì)有效的溫度補(bǔ)償算法是實(shí)現(xiàn)井下聲波測井?dāng)?shù)據(jù)存儲的關(guān)鍵。為了快速測試不同存儲器在高溫下的故障情況以及錯(cuò)誤校驗(yàn)糾錯(cuò)算法的溫度補(bǔ)償效果,該文設(shè)計(jì)了基于通用測試座的硬件系統(tǒng),編寫了基于MSComm控件的上位機(jī)控制軟件,開發(fā)了模擬實(shí)際測井溫度環(huán)境的測試策略,并對幾種存儲器進(jìn)行了高溫老化實(shí)驗(yàn)。結(jié)果表明,存儲器在高溫下(175℃)會出現(xiàn)徹底損壞、比特位翻轉(zhuǎn)等故障,錯(cuò)誤校驗(yàn)糾錯(cuò)算法可以提高存儲器的使用溫度。該設(shè)計(jì)不僅可以對符合開放NAND閃存接口協(xié)議的同類存儲器進(jìn)行快速的高溫老化與篩選,而且對井下存儲系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有重要的參考意義。
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