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      光柵精密位移測量技術(shù)發(fā)展綜述

      高旭; 李舒航; 馬慶林; 陳偉 長春理工大學光電工程學院; 吉林長春130022; 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所; 吉林長春130033

      關(guān)鍵詞:位移測量 光柵 高精度測量 衍射干涉 

      摘要:精密測量是精密機械加工的基礎(chǔ),是制造行業(yè)中影響制造精度的決定性因素之一,在當代精密機械制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛?;诠鈻诺木芪灰茰y量系統(tǒng)以其對環(huán)境要求小,測量分辨率高等優(yōu)點,在精密位移測量領(lǐng)域占據(jù)重要位置?;诠鈻诺木芪灰茰y量系統(tǒng)包括光學測量系統(tǒng)、信號接收、電子學細分及整體裝調(diào)幾部分。本文主要針對光學測量光路部分進行綜述介紹。首先介紹了經(jīng)典光柵干涉位移測量原理;其次,綜述了基于光柵的精密位移測量系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)現(xiàn)狀;再次,對比分析了幾種最具有代表性的測量技術(shù),總結(jié)其優(yōu)缺點;最后,對基于光柵的精密位移測量技術(shù)進行展望,揭示其高精度、高分辨力、高魯棒性、微型化、多維化、多技術(shù)融合的發(fā)展趨勢。

      中國光學雜志要求:

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