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      光柵精密位移測(cè)量技術(shù)發(fā)展綜述

      高旭; 李舒航; 馬慶林; 陳偉 長(zhǎng)春理工大學(xué)光電工程學(xué)院; 吉林長(zhǎng)春130022; 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所; 吉林長(zhǎng)春130033

      關(guān)鍵詞:位移測(cè)量 光柵 高精度測(cè)量 衍射干涉 

      摘要:精密測(cè)量是精密機(jī)械加工的基礎(chǔ),是制造行業(yè)中影響制造精度的決定性因素之一,在當(dāng)代精密機(jī)械制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛?;诠鈻诺木芪灰茰y(cè)量系統(tǒng)以其對(duì)環(huán)境要求小,測(cè)量分辨率高等優(yōu)點(diǎn),在精密位移測(cè)量領(lǐng)域占據(jù)重要位置?;诠鈻诺木芪灰茰y(cè)量系統(tǒng)包括光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、信號(hào)接收、電子學(xué)細(xì)分及整體裝調(diào)幾部分。本文主要針對(duì)光學(xué)測(cè)量光路部分進(jìn)行綜述介紹。首先介紹了經(jīng)典光柵干涉位移測(cè)量原理;其次,綜述了基于光柵的精密位移測(cè)量系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)現(xiàn)狀;再次,對(duì)比分析了幾種最具有代表性的測(cè)量技術(shù),總結(jié)其優(yōu)缺點(diǎn);最后,對(duì)基于光柵的精密位移測(cè)量技術(shù)進(jìn)行展望,揭示其高精度、高分辨力、高魯棒性、微型化、多維化、多技術(shù)融合的發(fā)展趨勢(shì)。

      中國(guó)光學(xué)雜志要求:

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      {2}論文章請(qǐng)?zhí)峁﹥?nèi)容提要和關(guān)鍵詞。內(nèi)容提要請(qǐng)?zhí)峁┲杏⑽陌姹荆篌w現(xiàn)作者的主要觀點(diǎn),行文流暢、簡(jiǎn)潔、客觀、規(guī)范。

      {3}數(shù)據(jù)與表格:文中有計(jì)量意義的數(shù)據(jù)均應(yīng)使用阿拉伯?dāng)?shù)字,數(shù)據(jù)核對(duì)應(yīng)準(zhǔn)確無(wú)誤,需要時(shí)應(yīng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)處理,統(tǒng)計(jì)學(xué)符號(hào)均用斜體。

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      中國(guó)光學(xué)

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