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      可用于單幅閉合干涉圖相位恢復(fù)的正則化相位跟隨技術(shù)

      王賢敏; 劉東; 臧仲明; 吳蘭; 嚴(yán)天亮; 周宇豪; 張與鵬 浙江大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院現(xiàn)代光學(xué)儀器國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室; 浙江杭州310027

      關(guān)鍵詞:干涉 相位恢復(fù) 單幅條紋 正則化 

      摘要:在利用干涉技術(shù)檢測溫度、壓力、形貌等物理量時(shí),往往需要通過各種調(diào)制手段將這些物理量的信息加載到干涉條紋圖樣中,并通過對其進(jìn)行分析而得到被測信息。當(dāng)實(shí)驗(yàn)條件不利于實(shí)驗(yàn)者實(shí)施移相、加載波等調(diào)制手段時(shí),探測器得到的往往是單幅閉合條紋,此時(shí)常用的移相解調(diào)技術(shù)和頻譜分析方法等不再適用。正則化相位跟隨(Regularized Phase Tracking,RPT)技術(shù)可以對單幅閉合條紋進(jìn)行相位恢復(fù),是目前針對單幅閉合條紋相位恢復(fù)最有效的方法。近年來研究者們從復(fù)雜干涉圖處理能力、算法穩(wěn)定性、相位恢復(fù)精度等方面對RPT技術(shù)進(jìn)行了改進(jìn)和發(fā)展,使其逐漸走向?qū)嵱没?。本文介紹了RPT技術(shù)用于單幅干涉圖相位恢復(fù)的基本原理,總結(jié)了近年來RPT技術(shù)的相關(guān)改進(jìn)與發(fā)展,例舉了采用RPT技術(shù)進(jìn)行相位恢復(fù)的應(yīng)用場合,并適當(dāng)推測RPT技術(shù)的未來發(fā)展方向。

      中國光學(xué)雜志要求:

      {1}參考文獻(xiàn):采用順序編碼制,按照正文中出現(xiàn)次序列于文后。以參考文獻(xiàn):(左頂格)作為標(biāo)識(shí);序號(hào)(左頂格)用阿拉伯?dāng)?shù)字加方括號(hào)標(biāo)示;每一條目的最后均以實(shí)心點(diǎn)結(jié)束。

      {2}論文章請?zhí)峁﹥?nèi)容提要和關(guān)鍵詞。內(nèi)容提要請?zhí)峁┲杏⑽陌姹?,要求體現(xiàn)作者的主要觀點(diǎn),行文流暢、簡潔、客觀、規(guī)范。

      {3}數(shù)據(jù)與表格:文中有計(jì)量意義的數(shù)據(jù)均應(yīng)使用阿拉伯?dāng)?shù)字,數(shù)據(jù)核對應(yīng)準(zhǔn)確無誤,需要時(shí)應(yīng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)處理,統(tǒng)計(jì)學(xué)符號(hào)均用斜體。

      {4}注釋與引文參考文獻(xiàn)統(tǒng)一編號(hào)混排于當(dāng)頁頁腳下。

      {5}請確保文章符合研究倫理,注意保護(hù)研究參與者和其他利益相關(guān)人的隱私與權(quán)利。

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