22K金內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)樣品的研制
關(guān)鍵詞：x射線熒光光譜法 標(biāo)準(zhǔn)樣品 定值 均勻性分析
摘要：X射線熒光光譜分析法因其檢測(cè)速度快,無須破壞樣品等優(yōu)點(diǎn),被廣泛的應(yīng)用于各行各業(yè)中,同樣在貴金屬含量分析中占有舉足輕重的地位。但是,熒光光譜分析法也有其自身的缺點(diǎn),為了保證結(jié)果的準(zhǔn)確性在檢測(cè)時(shí)必須要使用標(biāo)樣來校正標(biāo)準(zhǔn)曲線,并非所有的標(biāo)樣都能在市面上購(gòu)買,自制標(biāo)樣便是很多實(shí)驗(yàn)室解決困擾的途徑之一,定值是否準(zhǔn)確將是判斷標(biāo)樣好壞最重要的參數(shù),本文介紹一系列的方法來探討標(biāo)樣的定值。
中國(guó)檢驗(yàn)檢測(cè)雜志要求:
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