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      22K金內(nèi)部標準樣品的研制

      吳柏楊; 羅志高; 孟慶保; 易琳; 鄒振宇 深圳市周大福珠寶制造有限公司; 深圳518081

      關鍵詞:x射線熒光光譜法 標準樣品 定值 均勻性分析 

      摘要:X射線熒光光譜分析法因其檢測速度快,無須破壞樣品等優(yōu)點,被廣泛的應用于各行各業(yè)中,同樣在貴金屬含量分析中占有舉足輕重的地位。但是,熒光光譜分析法也有其自身的缺點,為了保證結果的準確性在檢測時必須要使用標樣來校正標準曲線,并非所有的標樣都能在市面上購買,自制標樣便是很多實驗室解決困擾的途徑之一,定值是否準確將是判斷標樣好壞最重要的參數(shù),本文介紹一系列的方法來探討標樣的定值。

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